當施加到電阻器兩端的電壓增至一定數值時會發生擊穿現象，導緻電阻值不可逆的增大或開路，因此必須對施加的電壓進行限製。電阻器的擊穿現象發生在兩引出線之間或螺旋槽之間，引出線之間的擊穿電壓取決於引出線之間的距離、形狀和環境大氣壓力的大小。電阻器槽間的擊穿電壓取決於槽寬、刻槽質量及塗敷絕緣材料的耐壓性能。 根據額定功耗和標稱阻值確定的電流值為額定電流。 In =
從上式可以看出：額定功耗不變時，電阻值越小，額定電流越大，對於低阻電阻器，其接觸電阻所占比例很大，當電流通過時在此處耗散的功率越大，同時從接觸部份分析，由於此部位電流密度很大勢必造成局部過熱，最終導至早期老化。 另外，電路中若有高壓電脈衝，應選用玻璃釉膜型電阻器。

電阻器是能量轉換元件，在工作時將電能轉變成熱能，在此轉換過程中，自身溫度升高，周圍溫度也隨之增高，此過程引起電阻器性能的可逆性變化和不可逆性變化，所謂可逆性變化指的是當溫度變化後電阻值也發生了變化，當溫度恢複後電阻值也恢複到原值，此物理變化過程用溫度係數來描述。而不可逆變化指的是當溫度變化後電阻值也發生了變化，當溫度恢複後電阻值不能恢複原值，此物理過程用 "老化" 來描述。電阻器的溫度係數和老化在一定程度上反映出電阻器的穩定性和可靠性，因此，電阻器的電負荷性能取決於在長期工作時的容許發熱溫度。

• 電阻體的不均勻發熱

  上討論是假設電阻器各部均勻發熱的情況，實際上各部分發熱溫度是不均勻的，它與構成電阻器的基體、保護層、引出線結構及刻槽質量有關。這些因素的影響是很複雜的，對局部過熱的計算也是很困難的，下面對電阻器的各種不均勻發熱現象進行一些討論：
  
  軸向不均勻發熱：小功率電阻器的熱傳導散熱起主要作用，而通過引出線傳導散熱卻是捷徑，從而造成接進引線的兩端溫度比電阻體中部的溫度低，對於低阻值電阻器，如果帽蓋與電阻膜的接觸電阻過大，則可能出現在帽蓋處功耗過大及電流密度大的物理現象產生，最終導緻此部位過熱。
  
  徑向不均勻發熱：電阻體產生的熱量首先沿半徑方向傳導，通過塗覆層向周圍環境散熱，薄膜型電阻器由於電阻膜和塗覆層的厚度薄，故內外溫差不大，但合成型電阻器內外溫差會很大。
  
  刻槽型電阻器的不均勻發熱：在刻槽電阻器中，發熱主要集中在刻槽後的電阻膜，因此刻槽部分的長度、螺旋帶的均勻性、導電帶與槽的比例、刻槽的深度均為不均勻發熱的因素。

• 電阻體結構不均勻發熱

  各種類型的電阻器在製造過程中由於工藝因素或其它因素不可避免的在結構上產生不一緻性，比如：膜層厚度不均勻（基體表面狀態不均勻、鍍膜時轉動不均勻、鍍膜時基體過多、真空度不夠等因素均可造成膜層不均勻）將造成電阻值分布不均勻，導緻負荷分布不均勻，形成局部過熱。電阻膜存在缺陷（基體表面存在孔洞、劃痕、汙垢）將造成局部電阻值分布不均勻，導緻負荷分布不均勻，形成局部過熱。在製造過程中如果膜受到衝擊也會形成缺陷，最終導緻局部過熱。

• 降額

  為了保證電阻器的正常工作，各種型號的電阻器都通過試驗確定了相應的降功耗曲線，因此在使用過程中，必須嚴格按照降功耗曲線使用電阻器。
  額定溫度（t_R）：容許施加額定功耗時的最高環境溫度，當環境溫度低於額定溫度時（t < t_R），可施加額定功耗。當環境溫度高於額定溫度時（t > t_R ）應施加降額功耗， 即：P = P_R *（t_max - t）/（t_max - t_R）式中：
  P_R：額定功耗，W；
  t_R：額定環境溫度，°C；
  t：環境溫度，°C；
  t_max：零功耗時最高環境溫度，°C；
  
  除環境溫度高於額定溫度需要降額外，對於阻值允許偏差為±0.5%、±0.25%、±0.1%的電阻器，當需要的穩定度與其阻值允許偏差在數值上相近時也應降額。

可靠性是電阻器的一個重要指標，隨著尖端技術的發展一些複雜的係統需使用大量的電阻器，因此電阻器的可靠性是保證係統正常工作的重要因素。

• 技術性能與可靠性；

  產品的技術性能與可靠性是兩個不同的概念。技術性能是指完成特定功能所具備能力，比如說：電阻器都具有額定功耗、阻值精度、溫度特性等基本特性，而可靠性是指發揮或者達到其技術性能把握的程度，應當這樣認為；不講產品的可靠性，其技術指標無從談起，產品的可靠性指標與產品的技術指標有重要的不同點，技術指標可以用儀器測試來檢查，而產品的可靠性不能用儀器檢查，而是通過對大量產品長時間的試驗後方可獲得。

• 可靠性的含義；

  產品在規定的條件下和規定的時間內完成規定功能的能力稱為可靠性。所謂規定條件是指產品所處的環境條件和工作條件，同一產品在不同條件下工作其可靠性亦不同，環境條件包括氣候條件機械環境（衝擊、振動、離心等）工作條件包括負荷大小和工作方式（連續工作或間歇工作）。

• 失效率；

  產品工作到某時刻後，單位時間內發生失效的概率稱失效率。
  λ = n/T
  n：為一定時間內失效的產品數。
  T：樣品數量和試驗小時數的乘積即元件小時數。
  比如：某電阻器失效率為2×10-7/元件小時，表示：1千萬只（107只）電阻器滿負荷工作1小時內有2只失效或者說1萬只電阻器工作（104只）電阻器工作1000小時（103小時）內有兩只失效。(失效率由鑒定實驗維持實驗升級實驗得出)。

• 質量等級符號；

  質量等級符號按下表用一個字母表示，不同的字母分別表示無可靠性指標、有可靠性指標或宇航級薄膜固定電阻器。GJB244A-2001所涉及的有可靠性指標的薄膜固定電阻器，其失效率等級範圍為 1.0%/1000h 至 0.001%/1000h。這些失效率等級是在60%緻信水平下，根據125°C壽命試驗定的。壽命實驗的條件是在額定溫度下，施加額定電壓，並以阻值變化±2%作為失效判據。

  質量等級符號	失效率 %/1000h
  C	無可靠性指標
  M	1.0
  P	0.1
  R	0.01
  S	0.001
  T	宇航級

  其他型號的有可靠性指標的電阻器的失效率定義與GJB244A-2001中的定義類似。對於電子元件失效率有試驗失效率和使用失效率之分，試驗失效率是指電子元件在規定的工作條件下進行工作或試驗時統計得到的數據，使用失效率是指在實際工作時統計得到的失效率，因此如果實際使用條件比額定工作條件優越，則使用的失效率將遠小於試驗失效率。

• 失效規律；

  許多電子元件曲線成浴盆形狀，可以分成三個階段。
  早期階段：失效率高，由電阻器在設計生產過程中的隱患或產品內都存在著缺陷造成，通過質量控製、工藝篩選可以篩除。
  偶然階段：失效的發生往往帶有隨機性。失效率低，良好的工作階段。
  耗損階段：使用後期因老化失效率增加。

• 提高電阻器可靠性的具體措施：

  主要失效模式阻值漂移、開路、斷裂、掉帽、斷引線。如何提高產品的可靠性呢，我公司經驗認為應從下述幾方面採取措施：

  • 從電阻器的結構設計和工藝設計上考慮，比如對電阻器的兩個重要部件之一基體在設計時從物理性能、化學性能、表面狀態、外形尺寸四個環節提出嚴格的要求。如氧化鋁的含量RJ24、25型為80%、RJK型為96%，實心結構，以上指標決定了基體的優良結構及導熱特性。
  • 嚴格的按照GJB546A進行過程控製及質量控製。對於重點工程用特殊電阻器在製造過程中逐個建立技術檔案，確保產品質量的可追溯性，嚴格對承製方進行體係評定。
  • 嚴格按照國軍標進行質量一緻性檢查及可靠性試驗。